759S યુવી-વિઝ સ્પેક્ટ્રોફોટોમીટર

મુખ્ય લક્ષણો:

લાંબા આયુષ્ય ધરાવતો પ્રકાશ સ્ત્રોત:પ્રકાશ સ્ત્રોત બદલવાની કિંમત અને જાળવણીની આવર્તનમાં નાટ્યાત્મક ઘટાડો.

ઓછો છૂટો પ્રકાશ:જ્યારે ગ્રાહકો ઉચ્ચ શોષકતા નમૂનાનું પરીક્ષણ કરવા માંગતા હોય ત્યારે તેમની જરૂરિયાતને પૂર્ણ કરવા માટે 0.05% કરતા ઓછો પ્રકાશ સુનિશ્ચિત કરો.

ઉચ્ચ તરંગલંબાઇ ચોકસાઈ:વિભાજનકિરણચોકસાઈ અને લાંબા ગાળાની સ્થિરતાની ખાતરી કરો.

વિશાળ તરંગલંબાઇ શ્રેણી:મોટાભાગના સ્પેક્ટ્રોફોટોમેટ્રિક પરીક્ષણની જરૂરિયાતોને પૂર્ણ કરે છે.

ઉચ્ચ ફોટોમેટ્રિક ચોકસાઈ:ખાતરી કરો કે ઓપ્ટિકલ લાઇટ પાથનું માપન ડિઝાઇન આવશ્યકતાઓને પૂર્ણ કરે છે, ઉચ્ચ ચોકસાઇ ફોટોમેટ્રી પરીક્ષણ સૂચકાંક પ્રાપ્ત કરવા માટે એસેમ્બલીની પ્રક્રિયા કાર્યક્ષમતામાં સુધારો કરે છે.

ફ્લેશ ડિસ્ક સ્ટોરેજ:વપરાશકર્તા માટે એક્સેલ વગેરે ફોર્મેટમાં ડેટા મેનેજ કરવાનું સરળ બનાવો.

યુએસબી પોર્ટ્સ:ઓનલાઈન કોમ્યુનિકેશનને સક્ષમ કરવા માટે વપરાશકર્તાને કોઈ પેરામીટર સેટ કરવાની જરૂર નથી જ્યારે RS232 સીરીયલ પોર્ટ તેને સેટ કરે છે.

શક્તિશાળી સોફ્ટવેર કાર્ય:સોફ્ટવેર વિવિધ વિશ્લેષણ ક્ષેત્રોમાં વિવિધ જરૂરિયાતોને પૂર્ણ કરવા માટે સ્પેક્ટ્રમ સ્કેનિંગ, સમય સ્કેનિંગ, ગતિશીલ સ્કેનિંગ, જથ્થાત્મક માપન, બહુ-તરંગલંબાઇ વિશ્લેષણ અને સૂત્ર ગણતરી, સ્પેક્ટ્રમ પ્રક્રિયા, ટોચ અને ખીણ શોધો, પ્રિન્ટ ડેટા, સાધન માપાંકન, પ્રદર્શન ચકાસણી અને વગેરે પ્રાપ્ત કરી શકે છે.

સ્પષ્ટીકરણ: